بررسي مدهاي نقص در نانو بلور فوتوني سه لايه متقارن متشكل از دي الكتريك - فلز و ماده چپگرد

INVESTIGATION OF DEFECT MODES IN TERNARY SYMMETRIC NANOPHOTONIC CRYSTAL CONTAINING DIELECTRIC-METAL-LEFTHANDED MATERIALS

در اين كار، خواص مدهاي نقص نانو بلور فوتوني سه لايه متشكل از دي الكتريك - فلز و ماده چپگرد در يك بعد بررسي شده است. لايه نقص از جنس دي الكتريك مي باشد. ما بازتاب را برحسب طول موج نشان داده شده و وابستگي آن به تعداد لايه ها، ضخامت ها و ضريب شكست هاي متفاوت لايه نقص و زواياي مختلف تابشي در قطبش TE و TM در ساختار متقارن بررسي كرده ايم. همان طور كه مشاهده مي كنيم دو مد نقص در حالت متقارن وجود دارد اما تعداد مدهاي نقص با افزايش ضريب شكست و ضخامت لايه نقص دي الكتريك افزايش مي يابد.

In this work, we investigate the properties of defect a mode in one-dimensional ternary symmetric dielectricmetal- left-handed photonic crystal (SLMDPC).The defect layer is made of dielectric material. We have shown reflectance in terms of wavelength and its dependence to different unit cells, index of refraction, thickness of dielectric defect layer and angle of incidence in both (transverse electric) TE and (transverse magnetic) TM polarizations in symmetric structure. As we have seen there are two defect modes in symmetric structure, but the number of defect modes is increasing by addition of index of refraction and thickness of dielectric defect layer