مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - BIST-based online test approach for SRAM-based FPGAs

شماره ركورد كنفرانس :

3632

عنوان مقاله :

BIST-based online test approach for SRAM-based FPGAs

پديدآورندگان :

Hanieh Karam ,

كليدواژه :

FPGA , Internal Testing , BIST , Test Pattern Generator , LUT

كشور :

ايران

نويسنده :

Hadi Jahanirad

كلمات كليدي :

FPGA; Internal Testing; BIST; Test Pattern Generator; LUT

لينک به اين مدرک :