بررسي طيف جذبي پرتو ايكس نانو لايه هاي Co/Ru بر زير لايه Si

studying X-ray Absorption spectrum from Co/Ru nanolayers on Si substrate

در اين مقاله با تاباندن اشعه ايكس به نانو لايه Co/Ru بر روي لايه سيلسيم توسط كد محاسباتي وين، طيف جذبي نانو لايه را مورد بررسي قرار مي دهيم . پرتو ايكس به دليل انرژي زياد آن، قابليت دارد كه به الكترون هاي مغزه عنصر مشخصي بتابد و باعث برانگيختگي آن شود. از آنجايي كه طيف جذبي پرتو ايكس به طور مستقيم ميزان برانگيختكي يك الكترون مغزه به حالت هاي اشغال نشده را اندازه گيري مي كند، مي توان با مقايسه طيف با چگالي حالت هاي الكتروني، ساختار الكتروني حالت هاي اضغال نشده آن اتم مشخص را به دست آوريم.

In this paper, the Wien2k package has been used to study of X-ray Absorption spectrum from Co/Ru nanolayers on Si substrate. It was found that due to their high energy nature, X-rays can penetrate inside the material and core electrons can be excited directly following proper energy choice. Given the fact that the X-ray absorption spectrum directly measures the excitations of a core electron to specified unoccupied levels, it was possible to attain the unoccupied electronic states of the atom.