انتخاب بهينه نقاط تست در روش ديكشنري خطاي آنالوگ

Optimum test point selection method for analog fault dictionary technique

ديكشنري خطا شامل دو نوع محاسبات آفلاين و آنلاين است، كه محاسبات آنلاين ساده و كم مي‌باشد ولي محاسبات آفلاين زياد و زمان‌گير است. به منظور كاهش زمان محاسبات و بعد ديكشنري خطا، انتخاب بهينه‌ي نقاط تست امري مهم و ضروري مي‌باشد. به واسطه‌ي اين كار در زمان كمتري هدف اصلي يعني ايزوله‌سازي خطاها تحقق مي‌يابد. در اين مقاله يك روش جديد براي انتخاب بهينه نقاط تست پيشنهاد شده است، ابتدا يك جدول ايزوله‌سازي خطا بر اساس ديكشنري خطاي اعداد صحيح طراحي شده و نقاط تست ويژه از آن جدول استخراج مي‌شوند، سپس بررسي مي‌شود كه آيا اين نقاط تست ويژه مي‌توانند تمام خطاها را ايزوله كنند يا خير. اگر پاسخ مثبت باشد، كار به اتمام مي‌رسد و خطاها با كمترين نقاط تست و در كمترين مدت زمان ايزوله مي‌شوند. در غير اينصورت، اين نقاط تست ويژه و خطاهايي كه توسط آنها ايزوله مي‌شوند از جدول ديكشنري خطا حذف مي‌شوند، سپس نقاط تستي كه داراي خطاهاي تك بيشتري هستند انتخاب مي‌شوند و به نقاط تست ويژه اضافه مي‌شوند، اين مرحله تا جايي تكرار مي‌شود كه تمام خطاها ايزوله شوند. در اين مرحله خطاهايي كه در يك گروه مبهم قرار گرفته اند از يكديگر جدا شده و به صورت تك ايزوله مي‌شوند. اين روش بر روي مدار فيلتر دو طبقه اعمال شده است، نتايج نشان مي‌دهد كه روش پيشنهادي داراي عملكرد بهتري نسبت به ساير روش‌ها مي‌باشد، از اين جهت كه در مدار فيلتر مورد نظر، تمامي خطاهايي كه براي ۹ ترانزيستور در نظر گرفته شده ايزوله شده است، همچنين محاسبات مورد نياز در مقايسه با ساير روش‌ها بسيار ساده است و زماني كه براي ايزوله سازي تمام خطاهاي مدار تحت تست مورد نياز است، ۰.۰۴۵ ثانيه مي‌باشد. بدين ترتيب خطاهاي موجود در شبكه‌هاي بزرگ با تعداد كمي نقطه تست و در زمان كمي به راحتي ايزوله مي‌شوند.

Fault dictionary has two types of online and offline calculation, that online calculation is simple, but offline calculation is excessive and Time-consuming. In order to reduce the computation time and dimension of fault dictionary, optimal test points selection is very essential. So, the main purpose, fault isolation, is achieved in a short time. In this paper a new efficient method to select an optimum set of test points for fault diagnosis is proposed. At the first, a fault-isolated table is constructed to pick out the special test points from the candidates. Then, the isolation ability of special test points has been considered. If they can’t isolate all of faults, the fault dictionary is rearranged. Therefore, the special test points and isolated faults are eliminated from the table of fault dictionary. In this step, the test point with more single fault is added to special test points. This step is repeated to isolate all of faults. The proposed method is applied on two-stage operational amplifier. By this method, all of faults for 9 transistors in two-stage operational amplifier are isolated. The computation Requirements are very simple than the other methods. In this circuit, the 0.045s is needed to isolate all of circuit faults. According to the results, it’s clear that the method is a good solution to minimize the size of the test points set. Also, it can be a practical method for medium and large scale systems.