بهبود تصاوير ميكروسكوپ نيروي اتمي (AFM) : نويززدايي، لبه¬يابي و پردازش بافت

ميكروسكوپ¬هاي نيروي اتمي(AFM)، تجهيزاتي توانمند جهت تصويربرداري¬ و دستكاري در مقياس نانو مي¬باشند. اين ابزارها از دو روش تصويربرداري تماسي و غيرتماسي سود مي¬جويند.با وجود توان بالاي تصويربرداريAFM، همچنان محدوديت¬ها و ضعف¬هايي سخت¬افزاري يانرم¬افزاري در تهية تصاوير آن وجود دارد؛ از جمله نويز نواري شكل ، اثرات پلگي ، محدوديت سرعت اسكن، مشكلات لبه¬يابي و پردازش بافت و ... .زمينة اينپژوهش، بهبود تصاوير AFM بدون توجه به مسائل سخت¬افزاري ميكروسكوپنيروي اتمي است.در اين مقاله ابتدا با استفاده از الگوريتمي ويژه، نويز نواري شكلبا رعايت جوانب احتياطي جهت صدمه نديدن لبه¬ها كاهش يافته و سپس ويژگي¬هاي تصوير استخراج مي¬شود.فرآيند استخراج ويژگي شامل دو مرحله لبه¬يابي و پردازش بافت مي¬باشد. لبه¬يابي، توسط روش تركيبيِ كرولت-كني انجام شده و سپس بافت تصوير، پردازش مي¬شود. ديگر بررسي صورت گرفته در اين پژوهش، مقايسة روش¬هاي گوناگون لبه¬يابي و نويززداييبا متدهاي مورد استفادة مقاله پيش رو مي¬باشد كه در ادامه به بررسي آنها مي¬پردازيم. شايان ذكر است كليه تصاوير استفاده شده در اين مقاله، حاصل از عمليات اسكن نمونه-ها توسط ميكروسكوپ نيروي اتمي مستقر در آزمايشگاه مرجع مركزي دانشگاه علم و صنعت ايران بدست آمده¬اند.