مطالعه خواص ساختاري و الكتروني و اپتيكي نانوبلور تك لايه SiGe(سيليسيوم ژرمانيد)

از زمان كشف گرافن به دليل داشتن خاصيت هاي قابل توجه اين ماده؛ توجه زيادي به اين ماده شده است. پس از كشف گرافن در سال 2004، پژوهشگران به جستجوي ساير گونه هاي دو بعدي از عناصر مشغول شدند. كه ميتوان از سيليسن و ژرمانن و استانن و فسفرن و … نام برد. در اين مطالعه خواص ساختاري و الكتروني و مغناطيسي و اپتيكي نانوبلورSiGe با استفاده از نظريه ٔ تابعي چگالي محاسبه شده است. خواص ساختاري و الكتروني و مغناطيسي و اپتيكي بلور SiGe با استفاده از روش پتانسيل كامل امواج تخت بهبود يافته LAPW با تقريب شيب تعميم يافته GGA با استفاده از نرم‌افزارهاي شبيه سازي WIEN2k و ESPRESSO در چارچوب نظريه تابعي چگالي (DFT) هوهنبرگ؛ كوهن و شم انجام گرفته است. نتايج حاصل سازگاري خوبي با نتايج تجربي و تئوري بدست آمده از روشهاي ديگران دارد.