اثر چگالي و ويسكوزيته سيال بر ارتعاشات غيرخطي ميكروتير پيزوالكتريك ميكروسكوپ نيروي اتمي در محيط سيال

امروزه ميكروسكوپ¬هاي نيروي اتمي از مهم¬ترين ابزار مورد استفاده در فناوري نانو به شمار مي¬روند. اين ميكروسكوپ¬ها در محيط¬هاي مختلف گازي و حتي مايع مي¬توانند مورد استفاده قرار گيرند. در اين مقاله، ارتعاشات غيرخطي ميكروتير پيزوالكتريك يك ميكروسكوپ نيروي اتمي در محيط¬هاي سيال مورد مطالعه قرار گرفته و تاثير چگالي و ويسكوزيته¬ي سيال بر فركانس و دامنه¬ي تشديد ميكروتير بررسي شده است. با استفاده از نرم افزار آباكوس، شيه¬سازي يك ميكروتير پيزوالكتريك ميكروسكوپ نيروي اتمي در محيط سيال، با استفاده از كوپل كردن مدل اجزاي محدود ميكروتير پيزوالكتريك با مدل سيال شبيه ¬سازي شده در روش ديناميك سيالات محاسباتي به صورت تحليل جامد-سيال استفاده شده است. ابتدا براي صحه¬سنجي شبيه سازي¬ها، نتايج مدل¬سازي¬ها با كار تجربي انجام شده توسط ساير محققان مقايسه شده، كه هم¬خواني بسيار خوبي بين نتايج برقرار است. بررسي نتايج به دست آمده از تحقيق حال حاضر، نشان مي¬دهد كه با افزايش ويسكوزيته سيال فركانس و دامنه تشديد ميكروتير به صورت غير خطي كاهش مي يابد. هم چنين با افزايش چگالي سيال، فركانس و دامنه تشديد ميكروتير به ترتيب به صورت غير خطي كاهش و به صورت خطي افزايش مي يابند.