P8. مباني نظري و الگوريتم بازيابي تصوير در ميكروسكوپي تابش طرح‌دار به روش خطي

Theoretical Principles and Image Reconstruction Algorithm of Structured Illumination Microscopy in a Linear Method

در اين مقاله، به بررسي روش ميكروسكوپي تابش طرح دار، مي‌پردازيم. با توليد 9 طرح توري پراش سينوسي، در سه زاويه و سه فاز متفاوت و برهم نهي آنها با تصوير واقعي، تصاوير ماره توليد كرده و آنها را از تابع پخش شدگي نقطه اي سيستم نوري عبور مي دهيم. اطلاعات فركانسي حاصل از اين تصاوير در فضاي فوريه اكنون در درون ناحيه حد پراش قرار دارند. حال با نوشتن كدهاي مناسب در نرم افزار متلب و جداسازي و چيدن محدوده هاي فركانسي در جاي مناسب خود در فضاي وارون، در نهايت به تصوير با تفكيك پذيري تقريبا دو برابر يك ميكروسكپ معمولي مي رسيم.

In this paper, we study the Structured Illumination Microscopy method. By producing nine sine-periodic diffraction grating, in three different angles and phases and superimposing with a raw image, the moiré patterns are created. Then we pass them through the Point Spread Function of an optical system. The information given by these images in Fourier space is now within the diffraction limit area. We developed a code in MATLAB software to extract higher order k-numbers which are missing in the system OTF. This can be done by separating frequency intervals and arranging them in the correct place in the reciprocal space. According, the reconstructed image resolution is increased almost twofold compared to that of a typical wide-field microscope.