ضخامت سنجي لايه هاي شفاف بر پايه روش مقطع نگاري همدوس نوري توسط منبع نور با طول همدوسي كم

روش مقطع نگاري همدوس نوري (OCT) در محدوده زماني به عنوان يك روش غيرتماسي و غير مخرب براي ضخامت سنجي مواد مختلف شفاف بكار گرفته مي شود. اين روش به دليل استفاده از تداخل سنجي توسط يك منبع نور با پهناي باند وسيع و طول همدوسي كم، داراي قدرت تفكيك محوري بالا و دقت كافي مي باشد. در اين مقاله به طور تجربي نشان خواهيم داد كه روش مقطع نگاري همدوس نوري مي تواند به عنوان يك روش دقيق جهت اندازه گيري ضخامت لايه هاي شفاف ميكروني نظيركريستال دوشكستي ليتيوم نيوبات (LiNbo3 ) و پليمر پلي استيرن سولفونات اسيد (PSSA)، مورد استفاده قرار گيرد.