روش جديد توليد الگوي آزمايش مبتني بر الگوريتم ژنتيك، براي آزمايش مدارات الكترونيكي

پيشرفت روز افزون علم الكترونيك همواره باعث توليد مدارات پيچيده و تر بوجود آمدن مدارات چند منظوره با وظيفه منديهاي پيچيده و حياتي شده است. كاهش هزينه هاي توليد و حجم سخت افزاري، همچنين افزايش قابليت اطمينان و اتكاپذيري اين سيستم ها همواره چالشهاي بزرگي سر راه محققان مي باشند، آزمايش مرحله به مرحله مدارات در طي فرايند ساخت و آزمايش مدارات قبل زا ورود به بازار به عنوان يكي از تكنيكهاي افزايش قابليت اطمينان مطرح مي شود. يكي از مهمترين مسائل انجام آزمايش، توليد الگوي آزمايش بهينه مي باشد؛ كه بتوان الگوهايي با طول كوتاهتر و تعداد كمتر توليد نمود. در اين مقاله ضمن بررسي روشهاي مختلف ارائه شده براي توليد الگوي آزمايش، مانند روشهاي شبه تصادفي و روش فراگير، يك روش توليد الگوي آزمايش مبتني بر الگوريتم ژنتيك ارائه مي دهيم؛ كه قادر است براي آزمايش مدارات با تعداد وروديهاي زياد الگوهاي آزمايش بهينه اي توليد كند. الگوريتم ارائه شده را با الگوريتم شبه تصادفي كه از پر كاربردترين روشهاي توليد الگوي آزمايش مي باشد مقايسه مي كنيم. نتايج بدست آمده بر روي مدارهاي ISCASʹ85 نشان مي دهد كه الگوريتم ارائه شده بسيار بهتر از روش هاي ارائه شده قبلي عمل مي كند؛ بعلاوه اينكه مجموعه الگوهاي آزمايش توليد شده با اين الگوريتم بسيار فشرده تر هستند