همبستگي بين مشخصات نانو ساختاري لايه هاي نازك آلمينيومي و پراكندگي نور به روش كيرشهف

Relation between nano structure characterizations of Alminium thin films and light scattering in kirchhoff method

در اين مقاله ، لايه هاي نازك آلمينيومي در 5 ضخامت مختلف با استفاده از دستگاه تبخير در خلا بر روي سطوح شيشه اي لايه نشاني شده اند . با استفاده از اطلاعات حاصل از ميكروسكوپ نيروي اتمي (AFM) ، زمختي ( زبري ) و طول همدوسي اين سطوح اندازه گيري شده است . بررسي بازه تقريب كيرشهف در پراكندگي نور از سطوح آلمينيومي ، تعيين شدت نور پراكنده در زواياي پراكندگي مختلف و همچنين خواص اپتيكي از قبيل بازتاب و پراكندگي نانو ساختاري از آن سطوح در ضخامت هاي مختلف از جمله مراحل اين تحقيق مي باشد .

In this article, thin films of Alminium have been layerd on glass surfaces by vacuum evaporation system. By using of AFM measurements, roughness and correlation length of these surfaces have been obtained. Investigation in Kirchhoff approximation about light scattering from Alminium surfaces, finding of scattered light in various scattered angles and optical properties such as reflection and nano structure scattering from those surfaces, are different stages of this lecture.