شماره ركورد كنفرانس :
4815
عنوان مقاله :
p46. مطالعه ناهمواري‌هاي سطحي لايه‌هاي نازك پلي‌آنيلين الكتروانباشت شده
عنوان به زبان ديگر :
Kinetic roughening Study of Electrodeposited Polyaniline Thin Films
پديدآورندگان :
عباسي ليلا lmabbasi302@gmail.com دانشگاه صنعتي اراك؛ , هدايتي كامبيز Kambiz.Hedayati@gmail.com دانشگاه صنعتي اراك؛ , قنبري داوود ghanbarichemist@gmail.com دانشگاه صنعتي اراك؛
كليدواژه :
الكتروانباشت , پلي‌آنيلين , ميكروسكوپ نيروي اتمي , Electrodeposition , Polyaniline , Atomic Force Microscope , 61 , 68 33
عنوان كنفرانس :
سي و پنجمين كنفرانس ملي فيزيك ايران و بيست و سومين همايش دانشجويي فيزيك
چكيده فارسي :
هدف از انجام اين پژوهش، رشد لايه‌هاي نازك پلي‌آنيلين بر روي زيرلايه مس، با استفاده از روش الكتروانباشت است. الكتروانباشت يكي از روش‌هاي شيميايي ساخت لايه‌هاي نازك است. در اين روش، با عبور جريان الكتريكي، از الكتروليت حاوي M0/1 آنيلين و M0/2 اسيد سولفوريك، آنيلين به صورت رسوب روي زيرلايه‌ي مس انباشت داده مي‌شود. تمام آزمايشات در دماي اتاق انجام شد. ناهمواري‌هاي سطحي لايه‌هاي نازك پلي‌آنيلين توسط ميكروسكوپ نيروي اتمي (AFM) مورد مطالعه قرار گرفت. همچنين ريخت‌شناسي سطحي لايه‌ها به وسيله ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM) بررسي گرديد و درصد مواد تشكيل دهنده توسط آناليز پراكندگي انرژي اشعه ايكس (EDX) مورد مطالعه قرار گرفت.
چكيده لاتين :
The purpose of this research is growing polyaniline thin films on the copper substrate using electrodeposition method. Electrodeposition is one of the chemical methods for synthesis thin films. The electrolyte containg 0.1 M aniline and 0.2 M sulfuric acid. Aniline is deposited on the copper substrate as a deposit. All experiments were carried out at room temperature. Surface roughness of thin films of polyaniline by Atomic Force Microscopy (AFM) was studied. The surface morphology of the leyers was also investigated by Scanning Electron Microscopy (SEM) and the percentage of the material was studied by X-ray diffraction analysis (EDX).
