شماره ركورد كنفرانس :
4852
عنوان مقاله :
p12. مطالعه پراش اشعه ايكس نانو ذرات هگزافريت استرانسيوم تهيه شده به روش سنتز سبز سل-ژل خود احتراقي
عنوان به زبان ديگر :
X-ray diffraction of strontium hexaferrite nanoparticles prepared by the green synthesis of sol-gel auto-combustion
پديدآورندگان :
حاجيان كرهرودي زهرا zhr.hjn@gmail.com دانشگاه صنعتي اراك؛ , هدايتي كامبيز kambiz.hedayati@gmail.com دانشگاه صنعتي اراك؛ , گودرزي مجتبي m.goodarzi@arakut.ac.ir دانشگاه صنعتي اراك؛
تعداد صفحه :
4
كليدواژه :
نانو ذرات , هگزافريت , هگزافريت استرانسيوم , سنتز سبز , سل-ژل , خود احتراقي پراش اشعه ايكس , 61.10 , 64.60
سال انتشار :
1397
عنوان كنفرانس :
چهاردهمين كنفرانس ملي ماده چگال انجمن فيزيك ايران
زبان مدرك :
فارسي
چكيده فارسي :
هگزافريت‌هاي مغناطيسي سخت با دارا بودن ويژگي‌هاي منحصر به فردي چون مقاومت الكتريكي بالا، ناهمسانگردي مغناطيسي تك‌محوري بالا و مغناطش اشباع بالا، كاربرد‌هاي بسيار مهم و متنوعي در صنعت دارند. در اين مقاله به مطالعه پراش اشعه ايكس نانو ذرات هگزافريت استرانسيوم با فرمول عمومي SrFe12O19 پرداخته مي‌شود. در اين پژوهش نانو ذرات هگزافريت استرانسيوم به روش نوين سنتز سبز خود احتراقي توليد شده‌اند، سپس مورفولوژي نمونه‌ها توسط دستگاه ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM) و ساختار فازي و بلوري به كمك پراش پرتو ايكس (XRD) مورد بررسي قرار گرفت. مطابق با نتايج محاسبات روش شرر و روش ويليامسون هال هم چنين نتايج اندازه گيري ميانگين ذرات با استفاده از دستگاه ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM) اندازه ذرات حدود 50 نانو متر بدست آمد.
چكيده لاتين :
Hard magnetic hexaferrite with unique features such as high electrical resistance, high single-magnetism magnetic anisotropy and high saturation magnetism have many important applications in the industry In this paper, we study the diffraction of X-ray nanoscale particles of strontium hexaferrite with the general formula of the SrFe12O19 general formulation of strontium hexaferrite nanoparticles are investigated. In this study, strontium hexaferrite nanoparticles were produced by self-combustion green synthesis method. Then, the morphology of the samples was investigated by X-ray diffraction (XRD) by scanning electron microscopy (SEM) and crystalline crystalline structure (XRD). In accordance with the results of the calculations of the Sherer method and the Williamson Hall method, the average particle measurement results were obtained using a scanning electron microscopy (SEM) particle size of about 50 nanometers.
كشور :
ايران
لينک به اين مدرک :
بازگشت