Author :
Korotky, Steven K. ; Eisenstein, G. ; Gnauck, A.H. ; Kasper, B.L. ; Veselka, John J. ; Alferness, R.C. ; Buhl, L.L. ; Burrus, C.A. ; Huo, T. C D ; Stulz, L.W. ; Nelson, K. Ciemiecki ; Cohen, L.G. ; Dawson, W. ; Campbell, J.C.
Author_Institution :
AT&T Bell Labs., Holmdel, NJ, USA