Author :
Kalter ; Coppens, P. ; Ellis, W. ; Fifield, J. ; Kokoszka, D. ; Leasure, T. ; Miller, Colin ; Nguyen, Quang ; Papritz, R. ; Patton, Christian ; Poplawski, M. ; Tomashot, S. ; van der Hoeven, V.
Author_Institution :
IBM General Tech. Division, Essex Junction, VT, USA