DocumentCode :
3798535
Title :
D&T Scene
Volume :
2
Issue :
3
fYear :
1985
Firstpage :
10
Lastpage :
15
Journal_Title :
IEEE Design & Test of Computers
Publisher :
ieee
ISSN :
0740-7475
Type :
jour
DOI :
10.1109/MDT.1985.294730
Filename :
4069578
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