پديد آورندگان :
باباپور، عباس دانشگاه صنعتي شريف - دانشكده فيزيك , سميعي، لاله دانشگاه صنعتي شريف - دانشكده فيزيك , اخوان، اميد دانشگاه صنعتي شريف - دانشكده فيزيك , مشفق، عليرضا دانشگاه صنعتي شريف - دانشكده فيزيك
چكيده فارسي :
در اين تحقيق، سيستم لايه نازك 2 Ag-SiO با غلظتهاي مختلف نقره (0/2%، 0/4%، 1/6% و 8%) بر سطح زيرلايه soda-lime ساخته شدند. پس از مرحله پخت نمونه‌ها، بررسي خواص فيزيكي و شيميايي لايه‌هاي نازك سيليكا (2 SiO ) حاوي نانوذرات نقره، توسط اندازه‌گيريهاي اپتيكي براي تعيين خواص نوري لايه‌ها، توپوگرافي و ريزساختار نمونه‌ها توسط ميكروسكوپ نيروي اتمي ) (AFM و ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM) ، اندازه‌گيري دقيق سايز نانوذرات نقره و توزيع آنها در سطح وحجم لايه‌ها با استفاده از ميكروسكوپ الكتروني عبوري (TEM) انجام شد. بر اساس تحليل نتايج به‌دست آمده از روشهاي مذكور، بدون انجام عمليات حرارتي مناسب، نانوذرات نقره در غلظتهاي خيلي كم نقره (0/2%) و يا خيلي زياد آن (8%) تشكيل نمي‌شوند، بلكه با در نظر گرفتن غلظت اوليه نقره در يك ناحيه مياني اين امر صورت مي‌گيرد. در واقع نانوذرات Ag در اين غلظتهاي حدي در دماي پخت ˚C 2 00 تشكيل مي‌شود. همچنين بر اساس مشاهدات TEM ، حداقل متوسط اندازه ذرات سنتز شده، براي غلظت 0/2% نقره در حدود nm 4 تعيين گرديد.
چكيده لاتين :
In this investigation, Ag-SiO2 thin films with different concentrations of Ag (0.2, 0.4, 1.6 and 8%) has been fabricated on soda-lime glass substrate using sol-gel method. After an annealing process, physical and chemical properties of the deposited silica films containing Ag nanoparticles have been studied including optical, topographical structural, morphological and size of the nanoparticle as well as their distribution using UV-visble spectrophotometery, atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscopy (SEM), and transmission electron microscopy (TEM) techniques, respectively. Based on our data analysis, the Ag nanoparticles did not form in the samples with low (0.2%) and high Ag concentrations (8%), without any suitable annealing process. Instead, the nanoparticles were formed easily for the intermediate Ag concentrations. In fact, for the the low and high Ag concentration, the Ag nanoparticles formed at the annealing temperature of 200 º C. In addition, according to TEM observations, the minimum average size of the synthesized particles were determined about 4 hm for the thin films containing 0.2% Ag concentration.
