عنوان مقاله :
شبيهسازي مونت كارلو آسيبهاي ميكروسكوپي DNA به وسيله الكترونهاي keV 30 با كد Geant4-DNA
پديد آورندگان :
مكاري ، مجتبي دانشگاه صنعتي خاتم الانبياء (ص) - گروه فيزيك , معيني ، حسين دانشگاه شيراز - گروه فيزيك , علامت ساز ، محمدحسن دانشگاه صنعتي اصفهان - دانشكده فيزيك
كليدواژه :
شبيهسازي مونتكارلو , شكست دورشتهاي , آسيب در DNA , آسيب الكترون , Geant4-DNA
چكيده فارسي :
برهم كنش پرتوهاي يونساز با بافت هاي زنده به واسطه فرايند هاي فيزيكي و شيميايي منجر به شكست هاي تك رشته اي و دو رشته اي ساده و پيچيده در DNA سلول ها مي شود. شبيه سازي مونت كارلو برهمكنش هاي پرتو با DNA، اطلاعات بسيار خوبي درباره نوع آسيب ها و فرايند آنها به ما مي دهد كه براي درمان سرطان و حفاظت پرتوي مي تواند بسيار مفيد باشد. در اين كار براي دستيابي به آسيب هاي اوليه DNA به وسيله الكترون هاي كم انرژي مورد استفاده در ميكروسكوپ الكتروني، مراحل فيزيكي، فيزيكيشيميايي و شيميايي برهمكنش هاي پرتو فرودي الكترون با كد Geant4-DNA شبيه سازي شده است. پس از شبيه سازي با در نظر گرفتن برهمكنش هاي مستقيم الكترون ها و بر همكنش هاي غير مستقيم راديكال هاي هيدروكسيل با DNA، احتمال شكست هاي مختلف در DNA سلول، همچنين توزيع شكست ها بر اساس انرژي انباشت مورد بررسي قرار گرفته است.نتايج اين پژوهش نشان مي دهد كه در انرژي 30keV آسيب هاي ساده تك رشته اي نسبت به آسيب هاي پيچيده بسيار بيشتر است. همچنين تعداد شكست هاي چندتايي غيرمستقيم نسبت به مستقيم، كه منجر به آسيب هاي پيچيده مي شوند، بيشتر هستند. علاوه بر اين تعداد DNA هاي هدف قرارگرفته به ازاي واحد دوز، در بازةه انرژي انباشت شده 0-20 الكترون ولت، بيشينه است و با افزايش انرژي انباشت كاهش مي يابد.
عنوان نشريه :
پژوهش فيزيك ايران
عنوان نشريه :
پژوهش فيزيك ايران