عنوان مقاله :
روشي خودكار براي اندازهگيري صافي سطح قطعات نوري در تداخل سنجي
پديد آورندگان :
رشيديان وزيري، محمدرضا پژوهشگاه علوم و فنون هسته اي - پژوهشكده ليزر و اپتيك، تهران، ايران , داودي، سميه پژوهشگاه علوم و فنون هسته اي - پژوهشكده ليزر و اپتيك، تهران، ايران , پرتوي شبستري، ناصر پژوهشگاه علوم و فنون هسته اي - پژوهشكده ليزر و اپتيك، تهران، ايران , محمودي شربياني، مالك پژوهشگاه علوم و فنون هسته اي - پژوهشكده ليزر و اپتيك، تهران، ايران
كليدواژه :
صافي سطح , نوارهاي تداخلي , الگوريتمهاي پردازش تصوير
چكيده فارسي :
در اين كار روشي خودكار براي اندازهگيري صافي سطح قطعات نوري از طريق آزمايش هاي تداخل سنجي ارائه شده است. ابتدا روابط موردنياز براي توصيف چگونگي شكلگيري نوارهاي تداخلي در آزمايشهاي صافي سطح به دست آمدهاند. با توجه به روابط به دست آمده و وصف چگونگي انحراف نوارهاي تداخلي از حالت صاف به حالت انحنادار در صورت ناصاف بودن سطح قطعه، روش استاندارد اندازهگيري صافي سطح مورد بررسي قرار گرفته است. در ادامه با استفاده از برنامهنويسي در محيط متلب و استفاده از الگوريتمهاي پردازش تصوير، روشي خودكار براي اندازهگيري صافي سطح در آزمايشهاي تداخلسنجي ارائه شده و بر اساس آن رابط گرافيك كاربري براي ارتباط آسانتر كاربران با سيستم تداخلسنجي توسعه داده شده است.
چكيده لاتين :
no abstract
عنوان نشريه :
فيزيك اتمي - مولكولي
