بررسي تاثير دماي بازپخت بر ويژگي هاي ساختاري، ريخت شناسي و نوري لايه هاي نازك Cu/NiO

در‌اين تحقيق، ابتدا لايه‌هاي نازك Cu/NiO بر روي‌ زير‌‌‌لايه‌هاي شيشه ‌‌و‌سيلسيوم ‌‌با‌‌روش كندوپاش واكنشي مگنتروني RFانباشت شده ‌و‌ سپس نمونه‌ها‌ در ‌دماهاي 473، 673‌ و K‌873‌‌ بازپخت حرارتي شده‌اند. براي بررسي ويژگي‌هاي ساختاري، ريخت شناسي و نوري نمونه‌ها ‌از ‌آناليزهاي مختلفي استفاده شده‌است. نتايج پراش پرتو ايكس نمونه ها بيانگر آن است كه ساختار تمامي لايه‌هاي تهيه شده بي شكل مي باشند. آناليز FTIR قله‌اي را در عدد موج، cm1 596.52 نشان مي دهد كه مربوط به پيوند NiO مي باشد. آناليز map EDS نيز ‌وجود‌ عناصر نيكل،‌اكسيژن ‌و مس را‌ در لايه‌هاي تهيه شده تاييد مي كند. نتايج ‌آناليز AFM‌‌ و ‌FESEM نشان مي‌دهند‌ كه ريخت شناسي سطح لايه‌ها‌ به شدت تحت تاثير دماي بازپخت قرار گرفته و ‌‌‌زبري ميانگين لايه‌ها بين 0.19 تا 0.50‌ نانو متر و جذر ميانگين مربعي ‌زبري بين 0.25‌ تا ‌0.63 نانو‌متر تغيير كرده ‌است. همچنين، تغيير دماي بازپخت گاف نواري نوري نمونه‌ها را تحت تأثير خود قرار‌داده و گاف نواري نوري نمو نه‌ها‌ در محدوده 3.14 تا3.50‌ الكترون ولت تغيير نموده ‌است.