مطالعه اسپكتروفوتومتري سينتيك تخريب فوتوالكتروكاتاليستي 4-نيتروفنول بر مبناي الكترود TiO2-MWCNT/Ti با استفاده از روش تفكيك منحني چند متغييره- حداقل مربعات متناوب

در اين تحقيق، نانوكامپوزيت TiO2-MWCNT بر روي الكترود تيتانيوم با بكارگيري روش لايه نشاني الكتروفورتيك ( (EPD پوشش‌دهي شده است. با استفاده از تكنيك SEM تاييد شد كه نانوذرات بصورت يكنواخت بر روي تمام سطح تيتانيوم پوشش‌دهي شده‌اند. الكترود اصلاح شده بعنوان آند در تخريب آلاينده‌ 4-نيتروفنول با استفاده از فرآيند فوتوالكتروكاتاليست بكار گرفته شد. سينتيك فرآيند تخريب آناليت توسط روش اسپكتروفوتومتري ارزيابي گرديد. فرآيند تخريب 4-نيتروفنول با روش‌هاي فوتوكاتاليست (PC)، الكتروشيميايي(EC) و فوتوالكتروكاتاليست(PEC) بررسي شد. نتايج نشان داد كه فرايند EC بسيار كند بود و در داده هاي جمع آوري شده براي دوفرايند ديگر به دليل همپوشاني طيفي اجزاء درگير در سينتيك امكان استخراج پروفايل سينتيك تخريب 4- نيتروفنول وجود داشت كه براي غلبه بر اين مشكل، روش تفكيك منحني چند متغييره- حداقل مربعات متناوب (MCR-ALS) براي غلبه بر اين مشكل استفاده شد. در پايان پروفايل سينتيك و طيف هاي خالص اجزاء به دست آمدند و كارآيي روش‌هاي استفاده شده در تخريب آلاينده بدين ترتيب بود PEC PC EC .