شماره ركورد :
619294
عنوان مقاله :
مقايسه ريزنشت سمان‌هاي رزيني سلف ادهزيو و رزيني با سيستم باندينگ Etch & Rinse
عنوان فرعي :
Microleakage of self- adhesive resin cements compared withresin cements containingetch&rinse adhesives
پديد آورندگان :
حشمت، هاله نويسنده , , حوريزاد گنجكار، مريم نويسنده استاديار گروه آموزشي دندانپزشكي ترميمي دانشكده دندانپزشكي دانشگاه آزاد اسلامي واحد تهران Hoorizadganjkar , Maryam , زينعلي، سعيد نويسنده دندانپزشك Zeinali , Saeid , آقاجاني، فرزانه نويسنده ,
اطلاعات موجودي :
فصلنامه سال 1391 شماره 84
رتبه نشريه :
علمي پژوهشي
تعداد صفحه :
9
از صفحه :
208
تا صفحه :
216
كليدواژه :
باند با عاج , باند با مينا , ريزنشت , سمان رزيني سلف ادهزيو
چكيده فارسي :
چكيده زمينه و هدف: با استفاده از ترميمهاي غير مستقيم همرنگ دندان، نقش سمان‌هاي رزيني برجسته‌تر شده است. براي كاهش مراحل كار و حساسيت تكنيكي، سمان‌هاي رزيني سلف ادهزيو در سال 2002 ارايه شده است. هدف از اين مطالعه مقايسه ميزان ريزنشت سمان‌هاي سلف ادهزيو,Maxcem Elite Rely X Unicem با سمان‌هاي با سيستم باندينگEtch&Rinse و RelyX ARC و Nexus3 در حد فاصل عاج –سمان و مينا-سمان در زمان 24 ساعت پس از كاربرد مواد مورد مطالعه مي‌باشد. روش بررسي: در اين مطالعه آزمايشگاهي چهل دندان مولر سوم خارج شده از افراد 20-30 ساله براي انجام مراحل كاربرد سمان به چهار گروه تقسيم شدند. در هرگروه سمان‌هاي زيراستفاده گرديد: گروه 1- RelyX Unicem،گروه 2- RelyX ARC، گروه 3- Maxcem Elite و گروه 4- Nexus3. حفره استاندارد دايره‌اي شكل به قطر سه ميلي‌متري در سطح باكال دندانها ايجاد شد و پس از كاربرد سمان‌ها در حفره به صورت مستقيم پس از 24 ساعت نگهداري در دماي 37 درجه، به مدت 24 ساعت در محلول نيترات نقره 50% وزني قرار گرفته و سپس به مدت 24 ساعت دندانها در محلول ظهور در مقابل نور فلورسنت قرار داده شدند. در مرحله بعد پس از چهار برش طولي در راستاي حفره، ميزان ريزنشت در چهار نقطه اكلوزال و چهار نقطه سرويكال اندازه‌گيري گرديد. از آزمونKruskalwalis براي مقايسه ريزنشت سمان‌ها با در نظر گرفتن 05/0 P? و از آزمون تكميلي Dunn براي مقايسه دو به دو گروهها با 0087/0 P? استفاده شد. يافته‌ها: در لبه اكلوزالي: ميزان ريزنشت در سمان‌هايRely X ARC و Nexus3 كمتر از سمان‌هاي سلف ادهزيو بود ( 05/0P?). در لبه سرويكالي اختلاف آمارِي ميان Rely X Unicem و Rely X ARC ديده نشد ( 05/0P?). ولي ميزان ريزنشت Nexus3 به طور معناداري كمتر از Rely X Unicem بود (0087/0 P? )و Maxcem Elite بيشترين ميزان ريزنشت را نشان داد. نتيجه‌گيري: ميزان ريزنشت در سمان‌هاي Etch&Rinseدر اكلوزال و سرويكال به طور معنا داري (05/0P? ) كمتر از سمان‌هاي سلف ادهزيو بود. كليد واژه‎ها: ريزنشت – سمان رزيني سلف ادهزيو – باند با عاج – باند با مينا
چكيده لاتين :
Abstract Background and Aim: Current self-adhesive resin cements have become popular for esthetic restorations. The purpose of this study was to compare the microleakage of 2 self-adhesive resin cements and 2 etch and rinse versions of the same brands. Materials and Methods: Forty human third molars were randomly assigned to 4 experimental groups: 1-Rely X Unicem, 2- Rely X ARC+ Acid etch 37% + Single Bond ,3- Nexus 3 Acid etch 37% + Optibond Solo, and 4- Maxcem Elite. Microleakage of the specimens were then measured with a four point scoring system at both the cervical &occlusal areas, with the aid of a stereomicroscope. Microleakage scores were compared using Kruskul-Wallis analysis, followed by relative Dunn test. Results: The microleakage of Rely X Unicem and Nexus 3 were significantly less in the occlusal region (P < 0.05), whereas in the cervical area there was no significant difference in microleakage between Rely X Unicem and Rely X ARC (P= 0.0087). The microleakage of Nexus 3 was significantly less than that of Rely X Unicem.Maxcem Elite showed the highestlevel of microleakage (P < 0.05). Conclusion: Microleakage of both cements using etch & rinse adhesive systems were significantly lower in comparison withtheir self- etch counterparts both at the cervical &occlusal areas. (P < 0.05) Key words: Microleakage - Self-Adhesive Resin Cement - Dentin Adhesion - Enamel adhesion
سال انتشار :
1391
عنوان نشريه :
دندانپزشكي - جامعه اسلامي داندانپزشكان
عنوان نشريه :
دندانپزشكي - جامعه اسلامي داندانپزشكان
اطلاعات موجودي :
فصلنامه با شماره پیاپی 84 سال 1391
كلمات كليدي :
#تست#آزمون###امتحان
لينک به اين مدرک :
بازگشت