شماره ركورد :
656903
عنوان مقاله :
رشد و بررسي خواص ساختاري و الكتريكي لايه‌هاي نازك Pb‌ الكتروانباشت شده بر روي زيرلايه‌هاي Au و Cu
عنوان فرعي :
Growth, Structural and Electrical Characterization of Electrodeposited Pb Thin Films, Grown on Cu and Au Substrates
پديد آورندگان :
نوازش، نرگس نويسنده عضو هيات علمي گروه فيزيك، دانشكده علوم، دانشگاه اراك , , نبيوني، غلامرضا 1334 نويسنده علوم پايه , , حمزه‌لو صفايي، نرگس نويسنده گروه فيزيك، دانشكده علوم، دانشگاه اراك Hamzeloo Safaei, Narges
اطلاعات موجودي :
فصلنامه سال 1390 شماره 0
رتبه نشريه :
علمي پژوهشي
تعداد صفحه :
13
از صفحه :
44
تا صفحه :
56
كليدواژه :
ميكروسكوپ الكتروني روبشي , سرب , لايه‌هاي نازك , ولتامتري چرخه‌اي , مشخصه‌يابي الكتريكي , الكتروانباشت , هسته‌زايي و رشد
چكيده فارسي :
در اين تحقيق لايه‌هاي نازك Pb با ضخامت‌هاي مختلف به روش الكتروانباشت تك حمام و با استفاده از سه الكترود بر روي زيرلايه‌هاي مس و طلا تهيه شدند. براي به دست آوردن ولتاژ مناسب انباشت از مطالعه ولتامتر چرخه‌اي استفاده شد. ضخامت لايه‌هاي انباشت شده با استفاده از دستگاه Dektak3 اندازه‌گيري شد. نانوساختار اين لايه‌ها با استفاده از ميكروسكوپ الكتروني روبشي و الگوي پراش اشعه ايكس مورد مطالعه قرار گرفت. بستگي مقاومت الكتريكي به ضخامت لايه‌هاي نازك سرب با استفاده از دستگاه چهارسوزنه در آرايش وان در پايو بررسي شده است.
چكيده لاتين :
In this work, Pb thin films were electrodeposited from an electrolyte containing Pb+2 ions. In order to obtain an optimum electrochemical condition and deposition voltage, cyclic voltammetery was performed on the electrochemical cell. The thickness of the Pb films was measured using Dektak3 instrument, and a good agreement was achieved between the calculated and the real thickness. Structural characterization of Pb was performed using XRD and SEM techniques. The sheet resistance was measured at different film thicknesses using four- point probe in van der Pauw geometry
سال انتشار :
1390
عنوان نشريه :
پژوهش سيستم هاي بس ذره اي
عنوان نشريه :
پژوهش سيستم هاي بس ذره اي
اطلاعات موجودي :
فصلنامه با شماره پیاپی 0 سال 1390
كلمات كليدي :
#تست#آزمون###امتحان
لينک به اين مدرک :
بازگشت