بهينه‌سازي تحليل شكل قله ايكس‌پي‌اس براي مطالعه ريخت نانوسيم‌هاي طلاي درآميخته با پليمر

An improvement in XPS peak shape analysis for the study of the morphology of metal nanostructures intermixed with polymers

روشي بهينه براي تحليل شكل قله ايكس‌پي‌اس براي شناسايي دقيق نانوساختارهاي فلزي درآميخته با يك ماتريس پليمري ارايه مي‌شود. در اين‌جا، توزيع عمقي نانوسيم‌هاي استوانه‌اي طلاي در آميخته با پليمر با جزييات به‌دست مي‌آيد، كه در آن تنها از تحليل يك طيف در گستره وسيعي از انرژي (حداقل تا 50 الكترون‌ولت پايين‌تر از انرژي قله) و كاهش زمينه ايجاد شده در اثر برخوردهاي ناكشسان الكترون‌ها با لحاظ ترابرد الكترون مربوط به هر دو مولفه فلزي و پليمري استفاده شده است. اين بدان معني است كه روشي بسيار ساده و غير مخرب براي تصويربرداري سه بعدي غير مستقيم ايكس‌پي‌اس براي شناسايي درخط نانوساختارهاي سطحي دو مولفه‌اي شامل فلز و پليمر ايجاد شده است كه اين مي‌تواند روشي بسيار مناسب براي استفاده در خطوط كنترل كيفيت توليد چنين نانوساختارهاي سطحي باشد.